• Artiklens indhold er godkendt af redaktionen

Auger-elektronspektroskopi

Oprindelig forfatter FMNi Seneste forfatter Redaktionen

/@api/deki/files/1435/=ud_a_195937.mp3?revision=1

Auger-elektronspektroskopi, Augeranalyse, AES, kemisk analysemetode baseret på Augereffekten. Ved beskydning af faste materialer med energirige elektroner kan elektroner løsrives fra atomer i materialets overflade. Ved at måle energien af disse udsendte Augerelektroner kan man bestemme, hvilke atomer materialet indeholder. Metoden kræver, at materialet anbringes i helt luftfri omgivelser (højvakuum). Da de løsrevne elektroner kun frigøres fra materialets yderste lag - ned til en dybde på ca. 3 nm - giver metoden specifikke oplysninger om den kemiske sammensætning af materialets overflade. På overfladen kan detaljer med en udstrækning på ned til 50 nm studeres. Metoden har stor betydning ved analyse af overflader af fx metallegeringer, halvledermaterialer, mikroelektronikkomponenter, keramiske stoffer og katalysatorer.