Auger-elektronspektroskopi

Verificeret
Artiklens indhold er godkendt af redaktionen.

Indholdsfortegnelse

/files/1435/=ud_a_195937.mp3?revision=1

Auger-elektronspektroskopi, Augeranalyse, AES, kemisk analysemetode baseret på Augereffekten. Ved beskydning af faste materialer med energirige elektroner kan elektroner løsrives fra atomer i materialets overflade. Ved at måle energien af disse udsendte Augerelektroner kan man bestemme, hvilke atomer materialet indeholder. Metoden kræver, at materialet anbringes i helt luftfri omgivelser (højvakuum). Da de løsrevne elektroner kun frigøres fra materialets yderste lag - ned til en dybde på ca. 3 nm - giver metoden specifikke oplysninger om den kemiske sammensætning af materialets overflade. På overfladen kan detaljer med en udstrækning på ned til 50 nm studeres. Metoden har stor betydning ved analyse af overflader af fx metallegeringer, halvledermaterialer, mikroelektronikkomponenter, keramiske stoffer og katalysatorer.

 

Find bøger

   
   Find Lydbøger
hos Storytel
   Find bøger
bogpriser.dk
   Studiebøger
pensum.dk
   Læs e-bøger
hos Ready

 

Hvad er et tag? Tags er artiklens nøgleord. Artikler med et fælles tag findes ved at klikke på tagget. Når du er logget ind, kan du tilføje tags og dermed skabe sammenhænge.

Filer

FilTilføjet af 
 ud_a_195937.mp3 (17.07 kB)

Ingen beskrivelse

Admin

29/01/2009

Nyhedsbrev

Om artiklen

Seneste forfatter
Redaktionen
29/01/2009
Oprindelig forfatter
FMNi
29/01/2009

© Gyldendal 2009-2014 - Powered by MindTouch Deki